– 利用自动化技术提高了从仪器调整到观察和分析的操作效率 –
东京–（美国商业资讯）– JEOL Ltd.（TOKYO：6951）（总裁兼首席执行官：Izumi Oi）宣布将于2024年7月28日发布新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810。
场发射扫描电子显微镜（FESEM）广泛应用于科研机构、大学和工业等科技领域。人们越来越需要一种从观察到分析都可以轻松、准确、快速、高效使用的仪器。
JSM-IT810在JSM-IT800的基础上增加了“Neo Action”自动观察和分析功能以及自动校准功能，并配备了新一代电子光学控制系统“Neo Engine”和“SEM Center”，实现了Zeromag和EDS集成等高操作性，不仅可以提高效率和生产力，还有助于解决劳动力短缺问题。
主要特点
1. 自动观察和分析功能“Neo Action”
您只需选择SEM图像采集条件和视场，该功能就会自动执行SEM观察和EDS（能量色散X射线光谱）分析。
该功能有助于提高日常工作（包括分析工作）的效率。
2. 自动校准功能“SEM Automatic Adjustment Package”
该功能可自动执行校准调整、放大率调整和EDS能量校准中的选定项目。
3.“Live Function”
该功能具有“实时3D”、“实时分析”和“实时地图”功能。在进行SEM观察的同时，可现场构建3D图像，以获取凹凸和深度信息。此外，它还有助于始终显示特征X射线光谱和元素映射。
4. EDS集成
SEM观察和EDS分析集成在一起。可以从观察屏幕执行点、区域和MAP的分析。结合无窗EDS-Gather-X可以实现从Li中进行检测，并以高灵敏度和高空间分辨率进行分析。
年度设备销售目标
220台设备/年
相关链接
产品信息：Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT810.php
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
总裁兼首席执行官Izumi Oi
（股票代码：6951，东京证券交易所主要市场板块）
www.jeol.com
Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810（照片：美国商业资讯）
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